cascade探针台可支持测试未来5G的产品

 

设计测试未来5G的产品

对于极其关键的应用，5G明显地保证实现即时链接更快的移动速度。 5G具有连接数十亿物联网产品的潜力，可满足各种速度和数据量要求。

开发5G的人员正在研究相位阵列技术，并且在同一产品中也能处理超过60个射频信号，这给自动测试设备的制造商和工艺带来了巨大的技术和经济负担。

在工程特性和生产描述中，测试5G产品的挑战是在高频谱上如何测试更高频率同时仍保持高信息量。随着5G带来的测试内容的显著增加，我们正在开发应用于5G产品上能快速，精准的测量方法并加速产品上市时间。

从承诺转向实用性的解决方案

在电信领域，从4G飞跃到5G通讯彻底改变我们生活的世界。它代表了下一代LTE移动网络，并将下载速度从目前的100 Mbps提升超过 100Gbps。此外，延迟时间将缩短至小于1毫秒。

这次转折的影响从长期来看是深刻的，伴随着数十亿计的产品参与物联网，全球互连将飞速发展。诸如医疗程序和无人驾驶汽车等复杂过程的远程控制将是常见的物联。身临其境的实时体验，例如远程虚拟，将进入日常使用。 4K解析度的全长故事影片不到一分钟的时间内就可以完成下载。

但是，所有先进的技术将5G推向市场需要一系列支持工具，以确保最终产品符合预期。这需要在芯片技术和制造工艺方面取得显着的性能提升 - 同时将价格/性能保持在经济可行的水平。

我们已经开始使用RF测试技术

从工程到生产阶段，FormFactor已经迎接了这一挑战，并且正在参与第一波5G产品测试的浪潮。與4G LTE相比 ，此新標準的主要目标是通过在移动网路射频信号的毫米波区域的较宽频范围内进行操作，降低每单位数据成本。毫米波区域中的5G元件测试相关的主要挑战是：

在最小串扰的情况下需要频繁的校准进行准确的测量处理由于相位阵列天线波束形成大量的射频信号由于频率和测试条件的增加，测试时间明显延长，测试自动化对于确保快速投入市场至关重要。

为了满足工程实验室的这些需求，FormFactor扩展了其Contact Intelligence™技术，并推出了自动RF助手，这是FormFactor最新探头系统中添加的硬件和软件组件的组合，可在多个温度下实现真正的免提操作。使用自动射频辅助系统，操作员可以开始测试并在整个工作期间，夜间甚至整个周末进行系统测量。如果高频性能漂移和探针因动态移动校正来获得最准确接触PAD位置，那么系统会自动重新校准。这使用户可以在更短的时间内测试更多产品，从而获得更准确的设计模型和更快投入市场的上市时间。

对于生产测试，我们提供Katana-RF，Pyrana和Pyramid产品进行相对应，以便在Sub-6 GHz至80 GHz提供多个Sites的元件进行测试，从而实现最低的测试成本。我们独特的探针卡整合了两种领先业界的技术;我们耐用坚固的MEMS探针和Pyramid薄膜技术。我们的Katana-RF和Pyrana产品采用垂直MEMS探针技术，探针具有高度兼容性和抗污染的优势，可实现高达30 GHz带宽的测试能力。我们的Pyramid探针卡采用膜探针技术，具有超低电感和出色的信号完整性，可实现80 GHz带宽的测试能力。

我们在制造和使用MEMS探头以及开发最先进的RF晶圆探针卡方面拥有丰富的经验，在业界一直处于领先地位。这种经验使我们能够将具有最高并行度的新型RF晶圆探针解决方案推向市场，降低生产测试成本并提供卓越的RF测试能力。

使用WinCal软件，Infinity探头和校准标准实现5G设备校准

使用Infinity 探针时，FormFactor的WinCal软件可提供完整的RF校准和性能的验证。WinCal集成各种校准方法，包括SOLT，SOLR，LRRM，mTRL，完成de-embedding的能力。使用数学算法，可以在校准后轻松提取产品参数，包含线缆的电容和电感，晶体管的Ft，Mason的增益，以及在实验室中编写自定义算法以进行更复杂分析的能力。

FormFactor RF专家使用我们专有的阻抗校准基板（ISS）改进了5G测试单元校准。使用我们经过验证的标准可确保晶圆在矢量网络分析仪上校准具有更高的精度和更好的可重复性。

引领高频多通道测试技术

为提高5G产品（如正交频分复用（OFDM）和多输入多输出（MIMO））的信号保真度而开发的技术意味着新一代芯片将在晶圆上以30 GHz以上的频率运行100多个RF信道水平。这种快速扩展的RF通道数量预计将达到每个芯片超过32个线路，在测试期间会产生一些实质性问题。在工程设计方面，需要更多的设备测试来支持扩展的速度频段，从而增加完成测试的工作量。

凭借多年的高频测试经验，FormFactor是帮助您实现多通道高频产品测试过渡的完美合作伙伴。借助我们的自主射频探针台系统，FormFactor可以帮助您超越当今工程探针系统的功能，以应对不断增加的通道和更高RF频率的挑战。

支持5G及庞大的测试需求

5G产业的未来，晶圆级生产测试仪预计将一次测量多达240个RF通道。目前，没有生产测试仪表可以处理这些高频道数。使用传统的测试系统架构，在测量仪器和被测器件之间校准，生成路径多信号的费用是可观的。

在FormFactor，我们正在积极研究一种经济高效的替代方案：智能地优化测试仪和探针卡之间的测试资源，以支持对更高RF频道的并行测试。这将包括在RF信号和IF信号之间转换的上变频器/下变频器，用于经济有效信号路径切换的COTS，以及能够并行馈送多个信道的功率分配器。

随着5G向前发展，FormFactor完全致力于与领先制造商合作开发创新的测试和测量方法，以支持实现其令人兴奋的承诺所需的庞大基础设施。

三星奥斯汀半导体，美国首个5G测试平台

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