电源芯片测试之浪涌电流测量方法及产生原因

原标题：电源芯片测试之浪涌电流测量方法及产生原因

对于电源芯片的设计和制造商来说，防止芯片受到电源干扰是非常重要的。为了保障芯片能正常稳定运行，浪涌测试无疑是必要的。本篇文章将全方位为你介绍浪涌电流如何产生以及如何测试的过程。

电源芯片浪涌电流如何产生？

1.开关电源切换和电压突变

在电源开关时，由于瞬间电容器的放电，电路中会发生短暂的电压上升，进而使电流出现短暂的增加，此时就会出现浪涌电流现象。而在电力系统中，由于突发的电压变异，例如由强雷电引起的电压变化，也可以导致浪涌电流的产生。

2.电力设备的瞬态过程

当电力设备启动、停止或运行时，电机转子的运动会导致出现短暂的电压上升，机械开关的切换也同样会导致浪涌电流的产生。

3.短路故障

当电路中出现短路故障，无论在低压配电网中还是在高压输电线路中，都会导致电流的瞬间上升，这样的电流大多数都是浪涌电流。

浪涌电流可能会对电路和电子设备造成很大的损害，包括器件损坏、断路等等。当大量的浪涌电流流过电路时，会引起短暂的电荷积累和放电，并在电压的交变方向上产生高电压尖峰，对电子设备造成极大的损害。浪涌电流还会导致设备的电磁兼容性问题，影响设备的EMI防护性能和信号完整性。这可能会导致通信故障、数据丢失、控制系统失败等问题。

浪涌电流测试时需要一台示波器和电源即可，通过电源给芯片提供电压电流，示波器在芯片的输出端测试浪涌电流即可，具体的测试方法可看：https://www.bilibili.com/video/BV17d4y1T7Cg返回搜狐，查看更多

责任编辑：