cascade Multi |Z| Probe探针介绍

cascade Multi |Z| Probe探针概述

Multi |Z| Probe® 是 RF / 微波多端口和数字信号测试中的一个新维度。它运用了与其他 |Z| 探针相同的专利技术，但是在一个探针上能够传输多达 16 个 RF / 微波信号。此外，可在探针上混合DC 和 RF / 微波信号，从而使您能够基于RF 信号添加电源。

当必须用单个探针接触若干个单独的pad时，接触结构必需完全对准。由于运用了 MEMS 技术，因此 Multi |Z| 探针能接触最多 35 个pad。而且，pad高度的微小差异可很容易地通过独立触点的弹簧式移动来克服。

如果需要，Multi |Z| 探针可通过配置为您的 DC 测试应用测试 DC 信号。对于单端应用，请查看 |Z| 探针的相关信息。对于仅需两个信号的应用，可使用 Dual |Z| 探针。另外，对于大量RF 测试，还可以将 Multi |Z| 探针集成到 |Z| 探针卡中。

cascade Multi |Z| Probe探针主要特征

非常适合多端口 RF / 微波和高速数字信号测试

在一个探针上可混合 DC 和 RF / 微波信号

长寿命 —— 通常可完成 > 100 万次接触测试

可在 10 K 至 200°C 的温度范围内实现超卓的性能

可在任何pad材料上进行测试，并不会造成损伤