cascade SmartMatrix 探针卡介绍

 

cascade SmartMatrix 探针卡概述

SmartMatrix 1500XP 可在移动和标准型 DRAM、图形存储器 (GDDR)、高带宽存储器 (HBM)、和新兴存储设备上提供300 mm full-wafer测试。该平台经过专门开发，可支持快速的设计进度和先进的产品线路图，扩展了久经考验的Matrix™ 架构，可满足探针卡并行性的增加，单次触压单片晶圆上多达 1536 个位点。通过采用 Formfactor 的TTRE技术，可在 16 个 TRE 共享组信号上支持更快的测试速度 / 时钟频率（从 125 MHz 至 200 MHz）。SmartMatrix 1500XP 能够完成 -40°C 至 160°C 温度范围内的晶圆测试，可满足汽车半导体器件的高温要求。

cascade SmartMatrix 探针卡主要特征

通过采用高级 TRE 技术 (ATRE) 实现了较高的并行性、较高的测试效率、以及较低的测试成本卓越的接触稳定性和电气性能可优化良率上佳的热运行可缩短浸泡时间并改善磨砂性能终接 TRE (TTRE) 可改善信号保真度，并不需要提升 ATE 测试器的能力水平具有优越的尖端位置和磨砂性能的坚固型 3D MEMS 弹簧上佳的热性能和设计灵活性出众的生产正常运转时间具有易用性和可服务性